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有谁知道:XRD小角度检测要从哪些方面进行分析? 十万火急!
  • “XRD小角度检测可以从以下步骤简单分析: 1、定性分析(XRD的主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,得知样品是由哪些物质构成的。 2、通过看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度越好。 3、看信噪比,信噪比越高,说明这张XRD图拍得越好,越精i确。 当然,还有许多信息,包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等,但是那个不是简单分析了。

  • “XRD小角度检测的操作步骤如下: 1.开实验室电源。 2.打开控制软件:打开桌面的“XG Operation” , 进入“XG control RINT2200 Target:Cu” 窗图。 3.测试样品放置: 压好样品后,把样品放入仪器前,一定要按仪器面板上的“DOOR OPEN”!直到听见断续的“哔、哔、…”蜂鸣声,才可以打开仪器的铁门放置样品,取出样品同样操作,否则,不然会伤害人体!且损害仪器。 4.仪器对样品测试: 打开右系统样品测试控制软件:进入Standard measurement[Right]窗口,注意此窗的Use列:Yes则用此行的测量条件,要求此列别的均为”No”;改好路径名(Folder name)以及文件名(File name);双击Condition列对应行的数字格,则进入该行的测量条件选择,按需求设置好各参数后,点击键,进入执行测量。 5.关机过程:按要求关闭控制软件,过 10分钟后 才能关冷却循环水电源:按“停止”。“

  • “XRD小角度检测的分析方法和步骤:1、在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的“晶态“物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的“尖峰”。 2、如果这些“峰”明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为微晶。 3、Scherrer (1918)揭示了衍射峰的增宽是对应晶面方向上的原子厚度(层数)不足以在偏离Bragg条件下相干减弱(destructivelyinterference)衍射峰。 当衍射峰宽度增加到接近其高度时(或高度下降到接近其宽度时), 可认为样品是非晶。 4、同一物质的话,峰窄说明晶粒比较大,和结晶度无关。同一台仪器测试且测试条件相同的情况下,峰高的比较多才能说明结晶情况较好。

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