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陶瓷电容的失效模式失效机理是什么？

电容常见的失效模式有：短路、开路、参数（包括电容量、损耗、漏电流等）飘移等。电容常见的失效机理包括：来料本身的缺陷、外加电压过高、电压瞬态变化、浪涌电流、功率耗散过大、热应力、机械应力、污染等。
多层陶瓷电容本身的可靠性较高，可以长时间稳定使用。但如果器件本身存在缺陷或在组装过程引入缺陷，则会对其可靠性产生严重的影响。
来料本身的缺陷：陶瓷介质内空洞、分层。温度冲击及机械应力产生的裂纹。浪涌电流。介质击穿。

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