如意信息网 - 商盟推荐
当前位置:商盟推荐首页 > 知识分享 > 求帮助!X射线荧光测定为什么X射线含量时样片厚度有影响?
求帮助!X射线荧光测定为什么X射线含量时样片厚度有影响?
  • X射线荧光测定(1) 每个元素的特征X荧光有不同的波长和能量,波长色散和能量色散就是利用它的波长和能量的不同来检测。波长色散利用晶体分光,把不同波长的特征X射线分开,根据Bragg公式和Moseley定律做元素的定性分析;根据元素含量越高,射线的强度就越强,通过一定的方法来校准和校正,进行定量分析。能量色散不用晶体分光,直接用半导体检测器检测样品的特征X射线的能量,进行定性和定量分析(2) 有能量、波长、全反射、同步辐射、X射线微荧光、质子激发X射线荧光。

  • X射线荧光测定用标样来校正,通过一定的方法来校准和校正,进行定量分析。

  • X射线荧光测定100PPM以下的铅含量完全可以测,当然不能太小,比如几个PPM就比较难测了,想对其有个准确的定量必须买标样,标样里面肯定有铅.

主营业务:光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪

更多内容
更多>

精选分享

本页面所展示的信息由企业自行提供,内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责如意信息网行业资讯对此不承担直接责任及连带责任。

本网部分内容转载自其他媒体,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性。不承担此类 作品侵权行为的直接责任及连带责任。