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半导体XRD检测的原理? 十万火急!
  • “半导体XRD检测可以从以下步骤简单分析: 1、定性分析(XRD的主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,得知样品是由哪些物质构成的。 2、通过看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度越好。 3、看信噪比,信噪比越高,说明这张XRD图拍得越好,越精i确。 当然,还有许多信息,包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等,但是那个不是简单分析了。

  • 半导体XRD检测常规扫描可以知道晶体的物相,用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距,掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度,还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析,还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。

  • 半导体XRD检测即X射线衍射,它是一种晶体检测方法,X射线打在原子周期排列的晶体上时会产生衍射图谱,衍射图谱反映了晶体内部原子的排列方面的信息,不同晶体的原子排列方式是不同的,因此,通过衍射图谱就能确定晶体的种类、相成分等等一系列信息。

主营业务:结构性能测试,光电性能测试,性能形貌测试

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