光斑分析仪主要分为三种类型：CCD传感器光斑分析仪，CMOS传感器光斑分析仪以及运用刀口式分析（机械式）的光斑分析仪，可以实现检测连续激光（CW）或脉冲激光（Plused）的需求。波长范围覆盖190~1600nm，像素达到4.65x4.65μm，探测器面积可达58x45mm。主要满足用户对激光光斑轮廓，光斑位置，光斑大小，光斑能量分布以及质心位置的分析，同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能，包含Excel，World或文本格式导出，方便用户对检测数据进行二次处理。以色列生产的Beamon系列光斑分析仪主要分为三种类型：CCD传感器光斑分析仪，CMOS传感器光斑分析仪以及运用刀口式分析（机械式）的光斑分析仪，可以实现检测连续激光（CW）或脉冲激光（Plused）的需求。

由于广电倍增管对信号的放大功能很强，对于不同强度的谱线可使用不同的放大倍率（相差可达一万倍），因此广电光谱法可用在同一分析条件对样品中含量相差悬殊的很多元素从高含量到痕量同时进行测定。3、准确度高。采用摄谱法的光谱分析，因感光板及测光方面引入的误差一般在1%以上，而采用光电法时，测量误差可降至0.2%一下，因而具有较高的准确度，有利于进行样品中高含量元素的分析。4、检出限低。光电光谱分析放入灵敏度与光源性质、仪器状态、试料组成及元素性质等均有关。一般可对固定的金属、合金或粉末采用火花或电弧光源时，检出限可达0.1~10ug/g。对溶样样品用ICP光源时检出限达1ng/ml~1ug/ml。用真空型光电光谱仪时对碳、硫、磷等非金属也具有较好的检出限。5、在某些条件下，可测定元素的存在方式，如测定钢铁中的酸溶铝、酸不溶铝等。

除此以外，数字CCD设备的各个组成部件，包括光传感器、数模转换器等，也会导致终的成像数据中包含各种类型的失真影响。在光斑图像分析系统中，为了获取对光斑的有效分析，工作就是要将成像数据中的噪声影响剔除。因此，在系统中提供了不同类型的去噪算法，实现这一功能。根据信号的基本原理，噪声一般表现为比较高频的信息。在设计相应的去噪算法时，需要依据噪声的特性，将其限定在一个可接受的范围，又同时保证对其它频率成分的增强。在实际中，通常选择两类算法限制噪声影响，其中均值滤波能够滤除高斯型噪声；中值滤波等对脉冲型噪声滤除效果较好。实际采集过程中，光在形成、传播、接收和处理过程中，都会受到来自多方面的干扰影响，导致成像质量模糊、失真等，图像质量的恶化会直接影响后续的分析处理。