请问：光谱仪X荧光光谱仪测量镀层厚度的原理和测的效果怎样?-如意宝知识分享

光谱仪(1)由于 XRF 是靠检测样品所发出的荧光 X 射线来判断测试样品里面的元素含量的，对于已电镀样品，X 射线检测结果多为表层信息，化学分析多为溶样后测定整体，由于基体影响，所以两个结果会有较大差距。 (3) 如果电镀层中引入了有害物质是地，要进行管控采取化学分析的方法会比较可靠。
光谱仪(1)仪器本身并不需经常维护，可以间隔适当时间对过滤网进行清洁。 (2)如有仪器机械故障，应联系供应商维修，不可私自拆开装置，以免弄巧成拙。
光谱仪采用块体检量线法，将样品置于聚脂薄膜杯中，注意样品量，好不能少于样品杯的二分之一，其它液体样品相同。

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