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X射线荧光光谱X荧光光谱仪测量镀层厚度的原理和测的效果怎样?

  • X射线荧光光谱采用块体检量线法，将样品置于聚脂薄膜杯中，注意样品量，好不能少于样品杯的二分之一，其它液体样品相同。

  • X射线荧光光谱(1)由于 XRF 是靠检测样品所发出的荧光 X 射线来判断测试样品里面的元素含量的，对于已电镀样品，X 射线检测结果多为表层信息，化学分析多为溶样后测定整体，由于基体影响，所以两个结果会有较大差距。 (3) 如果电镀层中引入了有害物质是地，要进行管控采取化学分析的方法会比较可靠。

  • X射线荧光光谱(2) 分辨率是检测器的问题.对于 ESI英飞思 的仪器而言,照射面积增大,效果比较好一点,比如说 可调光斑面积的 X 射线系统,1MM 光斑的测试效果比 5MM 的测试效果差很多。 (3) 照射面积的大小直接影响测试结果的准确性，在所有测试条件不变的情况下，测试面积越大，测试的强度越高，和分辨率没有关系，直接影响分辨率的只有狭缝（准直器）、晶体和探测器。

主营业务：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪

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