反射率检测系统反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等探测器，能在几秒内实现重现性高的测定无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

反射率检测系统 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。景颐光电科技用户提供了以光谱仪为的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。

反射率检测系统反射测量反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反色和化学样品中的成分信息。光谱仪：可以使用的USB4000光谱仪，覆盖紫外到可见200-850nm的范围，或者可见到近红外350-1000nm的范围；或覆盖200-1100nm的HR4000光谱仪。如果您考虑的是红外波段，可以使用NIRQuest近红外光谱仪，或者红外光谱仪。采样附件：测量反射率的时候，必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射，或者是反射率随入射光的角度改变的样品。